[ sulge aken ]

Elulookirjeldus (CV)
1.Eesnimi Aleks
2.Perekonnanimi Aidla
3.Töökoht Tartu Ülikooli Füüsika Instituut
4.Ametikoht insener
5.Sünniaeg 15.11.1935 (päev.kuu.aasta)
6.Haridus Tartu Riiklik Ülikool, 1959
7.Teenistuskäik 1959-1973 ENSV TA füüsika ja Astronoomia Instituut (aspirant, insener, nooremteadur),
1973-1982 ENSV TA Füüsika Instituut (nooremteadur)
1982-2001 Tartu Ülikool (vanemteadur,
2002-tänaseni TÜ Füüsika Instituut (insener)
8.Teaduskraad f. m. kand.
9.Teaduskraadi välja
andnud asutus, aasta
Tartu Riiklik Ülikool, 1981
10.Tunnustused
11.Teadusorganisatsiooniline
ja –administratiivne
tegevus
12.Juhendamisel kaitstud
väitekirjad
13.Teadustöö põhisuunad õhukeste oksiidkilede aatomkihtsadestamine
14.Jooksvad grandid ETF grandid nr. 5861 ja 5032
15.Teaduspublikatsioonid

Kaupo Kukli, Jaan Aarik, Teet Uustare, Jun Lu, Mikko Ritala, Aleks Aidla, Lembit Pung, Anders Hårsta, Markku Leskelä, Arvo Kikas, Väino Sammelselg . Engineering structure and properties of hafnium oxide films by atomic layer deposition temperature. Thin Solid Films, Volume 479, Numbers 1-2 (May 2005), pp. 1-11

Jaan Aarik, Aleks Aidla, Arvo Kikas, Tanel Käämbre, Raul Rammula, Peeter Ritslaid, Teet Uustare, Väino Sammelselg . Effects of precursors on nucleation in atomic layer deposition of HfO2. Applied Surface Science, Volume 230, Numbers 1-4 (2004), pp. 292-300

Sundqvist, J., Harsta, A., Aarik, J., Kukli, K. ja Aidla, A. (2003). Atomic Layer Deposition of Polycrystalline HfO2 Films by the HfI4-O2 Precursor Combination. Thin Solid Films, 427(1-2), 147-151

Aarik, J., Aidla, A., Mändar, H., Uustare, T., & Sammelselg, V. (2002). Growth Kinetics and Structure Formation of ZrO2 Thin Films in Chloride-Based Atomic Layer Deposition Process. Thin Solid Films, 408(1-2), 97-103.

Aarik, J., Aidla, A., Mändar, H., Uustare, T., Schuisky, M., & Harsta, A. (2002). Atomic Layer Growth of Epitaxial TiO2 Thin Films From TiCl4 and H2O on Alpha-Al2O3 Substrates. Journal of Crystal Growth, 242(1-2), 189-198.

viimati muudetud: 04.08.2005

Curriculum Vitae (CV)
1.First Name Aleks
2.Surname Aidla
3.Institution Institute of Physics, University Tartu
4.Position engineer
5.Date of birth 15.11.1935 (day.month.year)
6.Education Tartu State University, 1959
7.Research and
professional experience
1959-1973 Inst. of Phys. and Astronomy Acad. Sci. Est.SSR (PhD student, engineer, junior researcher),
1973-1982 Institute of Physics, Acad. Sci. Estonian SSR (junior researcher),
1982-2001 Univ. Tartu (senior researcher),
2002-present time Inst. Phys. Univ. Tartu (engineer)
8.Academic degree PhD
9.Dates and sites of
earning the degrees
Tartu State University, 1981
10.Honours/awards
11.Research-administrative
experience
12.Supervised dissertations
13.Current research program atomic layer deposition of thin oxide films
14.Current grant funding ESF grants Nos. 5861 and 5032
15.List of most important publications

Kaupo Kukli, Jaan Aarik, Teet Uustare, Jun Lu, Mikko Ritala, Aleks Aidla, Lembit Pung, Anders Hårsta, Markku Leskelä, Arvo Kikas, Väino Sammelselg . Engineering structure and properties of hafnium oxide films by atomic layer deposition temperature. Thin Solid Films, Volume 479, Numbers 1-2 (May 2005), pp. 1-11

Jaan Aarik, Aleks Aidla, Arvo Kikas, Tanel Käämbre, Raul Rammula, Peeter Ritslaid, Teet Uustare, Väino Sammelselg . Effects of precursors on nucleation in atomic layer deposition of HfO2. Applied Surface Science, Volume 230, Numbers 1-4 (2004), pp. 292-300

Sundqvist, J., Harsta, A., Aarik, J., Kukli, K. ja Aidla, A. (2003). Atomic Layer Deposition of Polycrystalline HfO2 Films by the HfI4-O2 Precursor Combination. Thin Solid Films, 427(1-2), 147-151

Aarik, J., Aidla, A., Mändar, H., Uustare, T., & Sammelselg, V. (2002). Growth Kinetics and Structure Formation of ZrO2 Thin Films in Chloride-Based Atomic Layer Deposition Process. Thin Solid Films, 408(1-2), 97-103.

Aarik, J., Aidla, A., Mändar, H., Uustare, T., Schuisky, M., & Harsta, A. (2002). Atomic Layer Growth of Epitaxial TiO2 Thin Films From TiCl4 and H2O on Alpha-Al2O3 Substrates. Journal of Crystal Growth, 242(1-2), 189-198.

last updated: 04.08.2005

[ sulge aken ]